裝配平板表面的質(zhì)量該怎樣檢查
2016年10月26日
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裝配平板表面的質(zhì)量該怎樣檢查？
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目前除了表面粗糙度有 標(biāo)準(zhǔn)及相應(yīng)的檢查方法外，表面質(zhì)量的其余項(xiàng)目均無檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，也缺乏完善的無損檢查方法。通常都是憑經(jīng)驗(yàn)根據(jù)裝配平板的要求與加工方法確定檢查的項(xiàng)目。一般裝配平板除了檢查表面粗糙度外，其余項(xiàng)目都可以靠工藝保證，不再進(jìn)行檢查。
對于重要的零件如機(jī)床導(dǎo)軌的表面，則根據(jù)需要決定檢查的項(xiàng)目。破壞性的檢查裝配平板/裝配平臺(tái)的方法只能用于抽驗(yàn)或者驗(yàn)證工藝的合理性。裝配平板表面質(zhì)量的檢查項(xiàng)目和評定方法有以下幾項(xiàng)。
（1） 裝配平板粗糙度：用輪廓檢查儀、雙管顯微鏡或者干涉顯微鏡等測定裝配平板表面粗糙度，按 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評定。裝配平板表面的劃痕、坑點(diǎn)等缺陷依靠目測檢查，大量生產(chǎn)中已開始采用光電檢查儀器代替目測檢查儀器檢查裝配平板的表面缺陷。
（2） 裝配平板的裂紋等微觀缺陷：可用以下方法和顯微鏡配合進(jìn)行檢查，大量生產(chǎn)中可用自動(dòng)光學(xué)掃描儀代替目測檢驗(yàn)。
1、 磁粉探傷法：將裝配平板磁化后，在裂紋缺陷處 會(huì)產(chǎn)生漏磁場，當(dāng)澆上磁鐵粉懸浮液后，鐵粉即沿著裝配平板缺陷所形成的的磁力分布，此檢查方法靈敏度高，能 的顯示裝配平板表面的細(xì)小裂紋和表面下的裂紋。
2、 熒光或者著色檢驗(yàn)法：利用熒光劑或者有色液體的shentou作用顯示出裝配平板的裂紋，主要用于不用磁化的材料的探傷。
3、 酸性檢查：裂紋等缺陷等腐蝕后可提高清晰度。
（3） 裝配平板表面顯微硬度變化：用維式硬度計(jì)測定。若要測得裝配平板表面層的硬度分布，可將裝配平板加工出2~3度的斜面，即可將裝配平板表面層厚度h放大25倍左右。
（4） 裝配平板殘余內(nèi)應(yīng)力測定。
1、 酸腐蝕法：裝配平板又較大的拉應(yīng)力時(shí)，經(jīng)酸性復(fù)試后即出現(xiàn)裂紋，可zaisheng產(chǎn)中很方便地使用。
2、 逐層去除法：可以測定裝配平板表面層的應(yīng)力分布。該方法是靠電介質(zhì)腐蝕逐層去除表面層，因?yàn)閮?nèi)應(yīng)力重新平衡引起零件的變形，測其變形量即可計(jì)算出殘余內(nèi)應(yīng)力值。
3、 X射線衍射法：用X射線可測得原子間距的變化。當(dāng)裝配平板存在殘余內(nèi)應(yīng)力時(shí)，進(jìn)出的原子間距發(fā)生變化。間距大于正常組織時(shí)為拉應(yīng)力，反之為壓應(yīng)力。此法可 較的測定裝配平板表面殘余內(nèi)應(yīng)力。當(dāng)需要測定鑄鐵平板表面應(yīng)力分布時(shí)，應(yīng)于逐層去除后測定。由于此法效率甚低，難于在生產(chǎn)中直接使用，國外已發(fā)展了快速X射線衍射儀，可以在幾分鐘之內(nèi)確定殘余內(nèi)應(yīng)力值。
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